详细摘要： 该导航系统可以将CAD数据的布线和大规模集成电路的设计图形和FIB的观察图像相对应起来。当CAD系统中的坐标位置，样品台就会通过链接移动到相应位置，就可以获得相...

详细摘要： 微型采样方法(已在日本和美国取得zhuanli)已在半导体器件分析领域成为一款工具，它正迅速向更小制样方向发展。仅用一小时左右即可获得一个微小样品，以便于STE...

详细摘要： MI4050是具有以下特征的高性能聚焦离子束系统：新型电子光学系统，可达到高水准的SIM像分辨率・大束流使加工速度得以提升・提高了低加速电压的分辨率，使得高品质...

详细摘要： 在设备及高性能纳米材料的评价和分析领域，FIB-SEM已成为的工具。近来，目标观察物更趋微细化；更薄，更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。日立高新公司，整合了高...

详细摘要： 通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察，采集一系列连续截面图像，并重构特定微区的三维结构。采用的镜筒布局，从材料、设备到生物组织——在宽广的领域范围内实...

详细摘要： “Ethos"采用日立高新的核心技术--的高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜，不但可以在低加速电压下实现高分辨观察，还可以在FIB加工时实现实时观察。S...